Segmentation of the expected duration of maintenance activities in semiconductor fabs

פרסום מחקרי: פרק בספר / בדוח / בכנספרסום בספר כנסביקורת עמיתים

תקציר

The duration and execution of preventive maintenance (PM) activities have a significant impact on maintaining effective control over factory equipment while ensuring that it is healthy and available for production. Although most PMs in the industry have similar structures, the task of generating an automated segmented view of the PM duration and flow to highlight inefficiencies and corresponding opportunities for improvement is complicated by a reliance on manual data entries made by human operators. In addition, most optimization and analysis models treat a PM as a single activity while ignoring its parts. In this paper, a model is proposed to generically segment a PM into its parts and define the expected PM duration. The segmentation, done automatically by sequencing the lots run on the tool, results in a clear overview of time losses in the PM and of opportunities for improvement.

שפה מקוריתאנגלית
כותר פרסום המארח2015 26th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, ASMC 2015
מוציא לאורInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
עמודים280-285
מספר עמודים6
מסת"ב (אלקטרוני)9781479999309
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 22 יולי 2015
אירוע26th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, ASMC 2015 - Saratoga Springs, ארצות הברית
משך הזמן: 3 מאי 20156 מאי 2015

סדרות פרסומים

שם2015 26th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, ASMC 2015

כנס

כנס26th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference, ASMC 2015
מדינה/אזורארצות הברית
עירSaratoga Springs
תקופה3/05/156/05/15

הערה ביבליוגרפית

Publisher Copyright:
© 2015 IEEE.

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Segmentation of the expected duration of maintenance activities in semiconductor fabs'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי