Constructing a reliable test&set bit

Frank Stomp, Gadi Taubenfeld

פרסום מחקרי: תוצר מחקר מכנסהרצאהביקורת עמיתים

תקציר

A reliable test&set bit is constructed from a collection of test&set bits of which some may be faulty. Faults, called omission faults, are modeled by allowing operations on the faulty bits to return a special distinguished value. The test&set bits are studied without a reset operation which can tolerate one omission fault only. There exist a general technique t faults from test&set bits which can tolerate only one fault. Also, there exists a general technique to convert a test&set bit without a reset operation into one which supports a reset.

שפה מקוריתאנגלית
עמודים177
מספר עמודים1
מזהי עצם דיגיטלי (DOIs)
סטטוס פרסוםפורסם - 1996
פורסם באופן חיצוניכן
אירועProceedings of the 1996 15th Annual ACM Symposium on Principles of Distributed Computing - Philadelphia, PA, USA
משך הזמן: 23 מאי 199626 מאי 1996

כנס

כנסProceedings of the 1996 15th Annual ACM Symposium on Principles of Distributed Computing
עירPhiladelphia, PA, USA
תקופה23/05/9626/05/96

טביעת אצבע

להלן מוצגים תחומי המחקר של הפרסום 'Constructing a reliable test&set bit'. יחד הם יוצרים טביעת אצבע ייחודית.

פורמט ציטוט ביבליוגרפי