Optimal layout and work allocation in batch assembly under learning effect

Yuval Cohen, Ezey M. Dar-El, Gad Vitner, Subhash Sarin

نتاج البحث: نشر في مجلةمقالةمراجعة النظراء

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Optimal layout and work allocation in batch assembly under learning effect'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Keyphrases