Measured descent: A new embedding method for finite metrics

R. Krauthgamer, J. R. Lee, M. Mendel, A. Naor

نتاج البحث: نشر في مجلةمقالةمراجعة النظراء

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Measured descent: A new embedding method for finite metrics'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Keyphrases

Mathematics