Gaussian process regression for out-of-sample extension

Oren Barkan, Jonathan Weill, Amir Averbuch

نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Gaussian process regression for out-of-sample extension'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Keyphrases

Mathematics

Computer Science