Few-shot Learning with Noisy Labels

Kevin J. Liang, Samrudhdhi B. Rangrej, Vladan Petrovic, Tal Hassner

نتاج البحث: فصل من :كتاب / تقرير / مؤتمرمنشور من مؤتمرمراجعة النظراء

ملخص

Few-shot learning (FSL) methods typically assume clean support sets with accurately labeled samples when training on novel classes. This assumption can often be unrealistic: support sets, no matter how small, can still include mislabeled samples. Robustness to label noise is therefore essential for FSL methods to be practical, but this problem surprisingly remains largely unexplored. To address mislabeled samples in FSL settings, we make several technical contributions. (1) We offer simple, yet effective, feature aggregation methods, improving the prototypes used by ProtoNet, a popular FSL technique. (2) We describe a novel Transformer model for Noisy Few-Shot Learning (TraNFS). TraNFS leverages a transformer's attention mechanism to weigh mislabeled versus correct samples. (3) Finally, we extensively test these methods on noisy versions of MinilmageNet and TieredImageNet. Our results show that TraNFS is on-par with leading FSL methods on clean support sets, yet outperforms them, by far, in the presence of label noise.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
عنوان منشور المضيفProceedings - 2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR 2022
ناشرIEEE Computer Society
الصفحات9079-9088
عدد الصفحات10
رقم المعيار الدولي للكتب (الإلكتروني)9781665469463
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - 2022
منشور خارجيًانعم
الحدث2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR 2022 - New Orleans, الولايات المتّحدة
المدة: ١٩ يونيو ٢٠٢٢٢٤ يونيو ٢٠٢٢

سلسلة المنشورات

الاسمProceedings of the IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition
مستوى الصوت2022-June
رقم المعيار الدولي للدوريات (المطبوع)1063-6919

!!Conference

!!Conference2022 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR 2022
الدولة/الإقليمالولايات المتّحدة
المدينةNew Orleans
المدة١٩/٠٦/٢٢٢٤/٠٦/٢٢

ملاحظة ببليوغرافية

Publisher Copyright:
© 2022 IEEE.

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Few-shot Learning with Noisy Labels'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا