Constructing a reliable test&set bit

Frank Stomp, Gadi Taubenfeld

نتاج البحث: نتاج بحثي من مؤتمرمحاضرةمراجعة النظراء

ملخص

A reliable test&set bit is constructed from a collection of test&set bits of which some may be faulty. Faults, called omission faults, are modeled by allowing operations on the faulty bits to return a special distinguished value. The test&set bits are studied without a reset operation which can tolerate one omission fault only. There exist a general technique t faults from test&set bits which can tolerate only one fault. Also, there exists a general technique to convert a test&set bit without a reset operation into one which supports a reset.

اللغة الأصليةالإنجليزيّة
الصفحات177
عدد الصفحات1
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرنُشِر - 1996
منشور خارجيًانعم
الحدثProceedings of the 1996 15th Annual ACM Symposium on Principles of Distributed Computing - Philadelphia, PA, USA
المدة: ٢٣ مايو ١٩٩٦٢٦ مايو ١٩٩٦

!!Conference

!!ConferenceProceedings of the 1996 15th Annual ACM Symposium on Principles of Distributed Computing
المدينةPhiladelphia, PA, USA
المدة٢٣/٠٥/٩٦٢٦/٠٥/٩٦

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Constructing a reliable test&set bit'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا